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6. Amberger Patenttag am 11. Februar 2011: „Marken, Muster und Wettbewerb“

| Pressemeldungen

Hochkarätige Referenten vom Bundespatentgericht, vom Deutschen Patent- und Markenamt, der Schaeffler Technologies GmbH, der BMW AG und aus Anwaltskanzleien werden beim 6. Amberger Patenttag den Fragenkreis „Marken, Muster und Wettbewerb“ im Detail beleuchten. Die Begrüßung durch den Präsidenten der HAW, Prof. Dr. Erich Bauer, wird verbunden mit der Verleihung der Würde eines Ehrenbürgers der Hochschule Amberg-Weiden an Herrn Vorsitzenden Richter am Bundespatentgericht Dipl.-Ing. Werner Bertl. Es schließt sich ein Auftaktvortrag durch den Vizepräsidenten des Deutschen Patent- und Markenamtes, Herrn Günther Schmitz, an, gefolgt von Fachvorträgen mit Themen wie „Das Gebrauchsmuster in der Praxis“, „Deutsches Gebrauchsmusterrecht“, „Geschmacksmusterrecht“, „Die Marke im Unternehmen“ bis hin zu „Die Anmeldung von Marken beim Deutschen Patent- und Markenamt“, „Markenrecht“, „Erfolgreicher Designschutz“, „Verletzung von Schutzrechten“ und „Produkt- und Markenpiraterie“.

Organisiert von der Hochschule Amberg-Weiden (Vizepräsidentin Prof. Dr. Andrea Klug, Lehrgebiet Gewerblicher Rechtsschutz und Wirtschaftsprivatrecht), der Geschäftsstelle der Industrie- und Handelskammer Regensburg in Amberg, der Landesgewerbeanstalt/TÜV Rheinland und dem Zentrum für Weiterbildung Amberg-Weiden (ZfW) richtet sich die Tagung an private und öffentliche Unternehmen, Mitarbeiter von Patentabteilungen, Patentsachbearbeiter und alle sonstigen Mitarbeiter, die sich mit Fragen des Patentschutzes und des strategischen Patentmanagements befassen. Die Tagung findet statt am:

 

Termin Freitag, 11. Februar 2011

Zeit 9.00 Uhr – 17.00 Uhr

Ort Hochschule Amberg-Weiden

Abteilung Amberg

Kaiser-Wilhelm-Ring 23

92224 Amberg

Siemens Innovatorium.

 

Anmeldungen sind bis zum 28.01.2011 möglich bei der Hochschule unter:

Tel.: 09621/482-3406, eMail: s.fersch@haw-aw.de

 

Wir dürfen Sie recht herzlich einladen, und würden uns über eine Vorankündigung sehr freuen.

 

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