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Exkursion: Siemens EMV und Fachmesse Sensor+Test

| Hochschulkommunikation, Fakultät Elektrotechnik, Medien und Informatik, Studierendenvertretung

Studierende der Fakultät Elektro- und Informationstechnik führten eine Exkursion zum Zentrum für EMV der Siemens AG (Erlangen) und zur Fachmesse Sensor+Test (Nürnberg) durch. 30 Teilnehmer(innen) erhielten unter Begleitung durch Prof. Dr. Alfred Höß sehr interessante Einblicke in die Welt der EMV und in die neuesten Innovationen der Messtechnik.

Exkursion nach Erlangen und Nürnberg

Die von der Fachschaft Elektro- und Informationstechnik mit Unterstützung und Begleitung durch Prof. Dr. Alfred Höß (Fakultät Elektro- und Informationstechnik) organisierte Exkursion führte zur Siemens AG, um sich im Zentrum für elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) Einblicke in diese komplexe Thematik zu verschaffen. Präsentiert wurden nach einem Einführungsvortrag zu den Grundlagen der EMV die beeindruckenden Dimensionen der Testanlagen im Rahmen einer ausführlichen Führung.

Beim anschließenden Besuch der Fachmesse Sensor+Test in Nürnberg konnten die Themenfelder Sensorik und Messtechnik durch Fachgespräche mit Ausstellern und durch Fachvorträge in Foren beleuchtet werden. Aussteller aus Industrie- und Automotivebereichen stellten dabei neue Produkte und Erfindungen aus.

Die Fachschaft Elektro- und Informationstechnik bietet gerne weitere Exkursionen an. Vorschläge und Anregungen werden entgegengenommen unter: fachschaft_ei@gmx.de

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